偏光顯微鏡分析是根據(jù)材料在偏振光下所呈現(xiàn)的光學(xué)特性利用偏光顯微鏡對材料進行定性、定量分析及顯微結(jié)構(gòu)研究。是巖相分析常用的分析技術(shù)。偏光顯微鏡在光學(xué)顯微鏡的光學(xué)系統(tǒng)中插入了起偏振鏡和檢偏振器,用以檢查樣品的各向異性和雙折射性的顯微鏡。
偏光顯微鏡的操作步驟:
(1)按“顯微鏡觀察玻片標(biāo)本時的注意事項”所述的有關(guān)操作步驟和方法,分別用反光鏡的平面鏡和凹面鏡對光。努力使視野中呈現(xiàn)一個處處一樣亮的正目形。同時比較平面鏡與凹面鏡的反光能力的強弱。
(2)任選一種根或莖的切片標(biāo)本,用鋼筆在其蓋玻片表面涂一直徑約為1 mm的圓點,按前面所述的有關(guān)操作步驟安放和移動切片標(biāo)本,使這一圓點正對低倍鏡。然后用低倍鏡檢查。若發(fā)現(xiàn)視野中未見有目點區(qū)域,則調(diào)整圓點的位置,直至它進人了視野,這時總結(jié)經(jīng)驗教訓(xùn),并隨意移開圓點,重新使之正對低倍鏡。爭取一次對準(zhǔn)。
(3)將偏光顯微鏡聚光鏡升至其頂面與載物臺表面幾乎齊平處停下,然后一面向左旋撥光圈的小柄,一面觀察視野里照明度的變化,直至小柄到達終點。再一面向右旋撥光圈的上柄,一面觀察視野里照明度的變化,直至小柄到達終點。
(4)將光圈擴至大后停下,然后一面級級下降聚光鏡,一面觀察視野中明度的變化,直至偏光顯微鏡聚光鏡降至其低位。再一面級緩上升聚光鏡。一面觀察視野中照明度變化,直至聚光鏡升至與載物臺兒乎齊平為止。
(5)調(diào)出偏光顯微鏡觀察切片標(biāo)本的焦距,調(diào)好后試探一下,將低倍物鏡降至什么程度,才能使標(biāo)本的影像消失。