反射金相顯微鏡滿足您不同層次的不同要求
反射金相顯微鏡廣泛應用于應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領域,也可應用于電子、光纖、紡織、印刷及微顆粒、粉末、同時也可用于食品安全評估、醫(yī)學研究地質(zhì)研究等。
反射金相顯微鏡可完成包括色度調(diào)整,圖象變形,數(shù)學形態(tài)學處理,圖象增強,圖象,匹配紋理分析,特征識別等一百多種專業(yè)圖象處理與分析功能; 彩色模型的處理與分析;分析數(shù)據(jù)的可視化處理使分析結果與圖象之間構成直接映射關系,便于觀察分析。反射金相顯微鏡先進的顆粒自動識別、粘連顆粒自動切分功能,保證了復雜圖象的準確分析;自動分析處理步驟編輯功能,能夠完成全自動分析過程的設置,幾何參數(shù)測量 功能,細長體、塊狀體、顆粒體、線狀體等各種特征體的自動定量分析功能,分析參數(shù)達一萬多項。
反射金相顯微鏡分析結果可存入數(shù)據(jù)庫,進行統(tǒng)計分析,制作圖表,打印報告,并可以照片質(zhì)量輸出圖象,采用的無限遠雙重色彩校正及反差增強光學系統(tǒng),系統(tǒng)進行了充分的無應力處理,為用戶的偏光觀察提 供銳利的圖像。反射金相顯微鏡采用5種上部部件和3種下部部件及兩個立柱組合方式,可根據(jù)您對材料檢測的要求和經(jīng)濟成本進行任意靈活的組合,可實現(xiàn)對透明材料、不透明材料以及熒光材料的分析,同時具有強大 的升級空間,保證您未來的檢測要求。
反射金相顯微鏡6孔對中物鏡轉(zhuǎn)盤,為物鏡提供了更大的操作空間,省去了調(diào)整物鏡和轉(zhuǎn)盤的時間,大大提高了工作效率和圖像效果,的錐光觀察技術,可采用多種方式進行錐光觀察,滿足您不同層次的不同要求,高度可達到380毫米的,給您提供非凡的操作空間,貼近用戶的靈活性,設備的部件升級無需專業(yè)人員,用戶可自行操作完成。
反射金相顯微鏡能夠給用戶提供的成像質(zhì)量的同時也能夠?qū)崿F(xiàn)用戶經(jīng)濟利益的較大化,并且為用戶日后的研發(fā)水平的提高提供了足夠大的升級空間,這是基于用戶利益的設計理念,已經(jīng)成為業(yè)內(nèi)競爭力的顯微鏡產(chǎn)品。